Спектрофотометр двулучевой U-2900

Оптическая схема

двухлучевая схема Сейя-Намиока

Дифракционная решетка

Источник света

дейтериевая и вольфрамовая лампы

Детектор

кремниевые фотодиоды

Спектральный диапазон

от 190 до 1100 нм

Ширина щели

1,5 нм

Уровень рассеянного излучения

менее 0.05% (220 нм Nal.340 нм NaNO2)

Погрешность по шкале длин волн

± 0.3 нм  (весь диапазон)

Воспроизводимость  по шкале длин волн

± 0.1 нм

Фотометрический диапазон

от -3,000 до +3,000 ед.опт.плотн.

от 0 до 300 % Т

Фотометрическая точность  по  NIST SRM 930

±0.002 ед.опт.плотн. (от 0 до 0.5ед. опт.плотн.);

±0.004 ед.опт.плотн. (от0.5до 1.0ед.опт.плотн.);

±0.008 ед.опт.плотн. (от1.0до2.0ед.опт.плотн.);

+0.3% Т.

Фотометрическая воспроизводимость по   NIST SRM 930

±0.001ед.опт.плотн. (от 0 до 0.5 ед.опт.плотн.);

±0.002ед.опт.плотн. (от 0.5 до 1.0 ед.опт.плотн.);

±0.004 ед.опт.плотн. (от 1.0 до 2.0 ед.опт.плотн.);

±0.1% Т

Скорость сканирования спектра

10, 100, 200, 400, 800, 1200, 2400, 3600 нм/мин.

Отклик

быстрый, средний, медленный

Стабильность нулевой линии (дрейф)

0,0003 ед. опт. плотн./час при 500 нм (через 2 часа  после включения прибора).

Флуктуации нулевой линии

± 0.0006 ед.опт.плотн. (от 200 до 950 нм)

Уровень шума

± 0.00015 ед. опт. плотн./ч (500 нм)

Смена источника излучения

автоматическая, может быть задана пользователем в  диапазоне 325 до 370 нм