Toggle navigation
Главная
Услуги
Документы
Оборудование
УНУ РСМ-500
Для сотрудников и аспирантов ВГУ
Для сторонних организаций
Контакты
Главная
Оборудование
Просвечивающий электронный микроскоп LIBRA 120 PLUS
Редактировать
Вход/регистрация
Вход
Забыли пароль?
Регистрация
Название
Фирма-изготовитель
Страна-изготовитель
Год выпуска
Описание
<h1 style="text-align:center"><span style="font-size:12px"><img alt="" src="https://preview.ibb.co/bF15uw/image.jpg" style="height:890px; width:640px" /></span></h1> <p>Просвечивающий электронный микроскоп со встроенным ОМЕГА-фильтром – высокотехнологичный и современный исследовательский комплекс с уникальной фирменной архитектурой оптической системы. Микроскоп способен решать обширный круг задач общего материаловедения (исследования металлических, полупроводниковых и полимерных образцов) и наук о жизни (клеточные образцы и т.д.).</p> <p style="text-align: justify;"><strong>Особенности:</strong> Удобная в управлении и настройке система освещения образца по Кёлеру, в сочетании со встроенным в колонну ОМЕГА-фильтром, гарантируют пользователям получение великолепных результатов на любых образцах, в том числе на характерных для биоматериалов толстых срезах и образцах без фиксации и контрастирования.</p> <p style="text-align: justify;"><strong>Методики:</strong></p> <p style="text-align: justify;">1. Определение фазового состава тонких пленок.</p> <p style="text-align: justify;">2. Проведение структурного анализа материалов (тонкопленочные материалы, нанопорошки, утоненные массивные материалы, биоматериалы) с информационным пределом не хуже 0,20 нм.</p> <p style="text-align: justify;">3. Исследование морфологии поверхности с использованием метода реплик.</p> <p style="text-align: justify;"><strong>Объекты исследования в ПЭМ:</strong></p> <p style="text-align: justify;">Толщина объектов для ПЭМ менее 100 нм (зависит от атомной массы элементов и т.д.). Для достижения наилучшего качества исследования следует готовить образцы толщиной 10-50 нм. Препараты объектов исследования можно поделить на группы:</p> <p style="text-align: justify;">1. <em>Дисперсные порошки</em>, осажденные на пленку-подложку после их диспергирования для разрушения агломератов порошинок. В качестве несущей подложки применяют, например, тонкие пленки углерода.</p> <p style="text-align: justify;">2. <em>Тонкие пленки</em>, образующиеся, например, при конденсации пара на подложку, которую затем удаляют.</p> <p style="text-align: justify;">3. <em>Фольги</em>, получаемые из массивных объектов путем механической шлифовки (полировки) с последующим электролитическим (химическим) утонением или бомбардировкой ионами. Этот способ изготовления объектов для электронной микроскопии является в настоящее время основным. Наиболее дорогим и высокотехнологичным считается фокусированный ионный пучок, позволяет вытравить тонкую фольгу («ламельку», «слайс») имеющую поперечный размер порядка 5-10 мкм именно из интересующей области.</p> <p style="text-align: justify;">4. <em>Срезы</em>, получаемые на ультрамикротоме. Наиболее широко применяется для препарирования органических, в т.ч. клеточных тканей, и неорганических объектов.</p> <p style="text-align: justify;"> </p> <table border="1" cellpadding="0" cellspacing="1"> <tbody> <tr> <td colspan="3"> <p><strong>Основные характеристики LIBRA 120</strong></p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Ускоряющее напр-е</p> </td> <td style="width:547px"> <p>120 кВ (фиксированные ступени: 20—40—60—80—100—120 кВ)</p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Тип катода</p> </td> <td style="width:547px"> <p>- вольфрамовый</p> <p>- гексаборид лантана (LaB<sub>6</sub>)</p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Диапазон увеличений</p> </td> <td style="width:547px"> <p>собственно TEM: х80 – х630 000 плюс увеличение камеры</p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Пространственное разрешение</p> </td> <td style="width:547px"> <p>Точка-точка – не хуже 0,34 нм Информационный предел не хуже 0,20 нм </p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Держатель образцов</p> </td> <td style="width:547px"> <p>Гониометрический столик с моторизацией по 4 осям:</p> <p>X—Y—Z---Поворот по оси X до ± 75°</p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Спектрометр</p> </td> <td style="width:547px"> <p>Встроенный в колонну ОМЕГА-типа.</p> <p>Энергетическое разрешение не хуже 0,7 эВ</p> </td> </tr> <tr> <td style="width:133px"> <p>Режимы работы базовой системы</p> </td> <td colspan="2" style="width:570px"> <p style="margin-left:21.8pt"><em><u>Режимы ПЭМ с энергетическим фильтром:</u></em></p> <p style="margin-left:21.8pt">- изображение в упруго рассеянных электронах / в неупруго рассеянных;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- светлое поле;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- темное поле (а – в картезианских координатах от выбранного рефлекса; б – с конусным освещением от всех рефлексов расположенных на кольце);</p> <p style="margin-left:21.8pt">- режим низких доз эл-ной бомб-ки - для легкоплавких образцов.</p> <p style="margin-left:21.8pt"><em><u>Аналитические режимы:</u></em></p> <p style="margin-left:21.8pt">- спектроскопия электронных потерь (в том числе в режиме изображений);</p> <p style="margin-left:21.8pt">- электронно-спектроскопические изображения;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- опционально – EDS.</p> <p style="margin-left:21.8pt"><em><u>Режимы дифракции:</u></em></p> <p style="margin-left:21.8pt">- микродифракция ~100 нм;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- дифракция на выделенной области (ДВО-<em>SAD</em>) (от участков диаметром 0,8—1,6—3,9—6,2 мкм);</p> <p style="margin-left:21.8pt">- дифракция в сходящемся пучке электронов (ДСПЭ-<em>CBED</em>) (min 1,6 нм).</p> <p style="margin-left:21.8pt"><em><u>(Опции) Режимы STEM:</u></em></p> <p style="margin-left:21.8pt">- SE - вторичные электроны;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- BsE - обратно рассеянные электроны;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- HAADF/HACDF - центрированное / кольцевое / темное поле при больших углах;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- BF – светлое поле;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- DF – темное поле;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- SI – спектроскопические изображения;</p> <p style="margin-left:21.8pt">- EDS – энергодисперсионный анализатор</p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Вакуумная система</p> </td> <td style="width:547px"> <p>Полностью сухая - безмасляная</p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Дополнительные системы</p> </td> <td style="width:547px"> <p>Встроенная антивибрационная пневмоподвеска</p> </td> </tr> <tr> <td colspan="2" style="width:156px"> <p>Графика</p> </td> <td style="width:547px"> <p>С разрешением от 512х512 до 2048х2048 пикселей</p> </td> </tr> </tbody> </table>
Активно или нет
Сохранить
О центре
Общая информация
Приоритетные направления работы
Функции центра
Внешние связи
Метрологическое обеспечение
Результаты работы Центра. Благодарности
Отзывы
График загрузки оборудования
Перечень методик