Растровый электронный микроскоп JSM-6380LV JEOL с системой микроанализа INCA 250
Название | Растровый электронный микроскоп JSM-6380LV JEOL с системой микроанализа INCA 250 | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Описание |
Многоцелевой сканирующий (растровый) микроскоп JSM-6380LV – удобный, простой в управлении, исключительно надежный прибор для рутинных работ с компьютерным контролем и превосходными техническими характеристиками. Модель микроскопа сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах. ВОЗМОЖНОСТИ ПРИБОРА, МЕТОДИКИ:
Особенности: Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, в т.ч. образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов. Технические характеристики:
| ||||||||||||||||
Фирма-изготовитель | JEOL | ||||||||||||||||
Страна-изготовитель | Япония | ||||||||||||||||
Год выпуска | 2004 |