Перечень методик, используемых Центром:

1. Методика определения фазового состава порошковых материалов рентгеновским дифрактометрическим способом.

2. Методика определения фазового состава тонкопленочных материалов рентгеновским дифрактометрическим способом. 

3. Методика установления температурных границ фазовых переходов в интервале температур 25-1100 С порошковых и тонкопленочных материалов рентгеновским дифрактометрическим способом. 

4. Методика определения качественного и полуколичесвтеонного элементного состава порошковых и тонкопленочных материалов для элементов с М > 40 г/моль рентгено-люминесцентным способом.

5. Методика расчета и моделирования кристаллической решетки неизвестного вещества в порошковом и тонкопленочном состоянии рентгеновским дифрактометрическим способом.

6. Методика оценки степени текстурированности тонкопленочных материалов рентгеновским дифрактометрическим способом. 

7. Методика определения среднего размера зерна поликристаллических сплавов рентгеновским дифрактометрическим способом. 

8. Методика исследования тонкопленочных материалов на просвет, определение межплоскостных расстояний рентгеновским дифрактометрическим способом. 

9. Методика исследования тонкопленочных материалов на просвет методом просвечивающей электронной микроскопии. 

10. Методика исследования тонкопленочных и массивных материалов, определение фазового состава, ориентации кристаллитов на отражение электроннографическим способом. 

11. Методика определения толщины пленки, слоев, входящих в состав гетероструктуры методом растровой электронной микроскопии. 

12. Методика исследования морфологии поверхности, определения латерального размера неоднородностей, распределение высот методом растровой электронной микроскопии.

13. Методика определения качественного и количественного элементного анализа проводящих материалов в режиме высокого вакуума энергодисперсионным способом. 

14. Методика определения качественного и количественного элементного анализа непроводящих материалов в режиме низкого вакуума энергодисперсионным способом. 

15. Методика исследования морфологии поверхности, методом атомно-силовой микроскопии.

16. Методика исследования определения шероховатости, поверхности, распределения высот методом атомно-силовой микроскопии. 

17. Методика исследования моно-, поликристаллических объемных и пленочных образцов полупроводниковых и диэлектрических материалов с целью определения параметров и механизмов электрон-фотонного взаимодействия в области собственного, экситонного, внутрицентрового примесного, межпримесного поглощения способом измерения спектров пропускания. 

18. Методика исследования неорганических и органических соединений, определение их концентрации, установление закономерностей между оптическими свойствами химическими процессами в этих веществах способом измерения спектров поглощения.

19. Методика исследования моно-, поли- кристаллических объемных и пленочных образцов узкозонных полупроводниковых и диэлектрических материалов с целью определения параметров и механизмов электрон-фотонного взаимодействия в области собственного, экситонного, внутрицентрового примесного, межпримесного поглощения способом измерения спектров пропускания. 

20. Методика измерения спектров рассеянного поглощения лекарственных препаратов для экспресс-контроля их качества методом ИК-спектоскопии. 

21. Методика измерения спектров поглощения нефтепродуктов для экспресс-контроля качества методом ИК-спектоскопии.

22. Методика измерения спектров рассеянного поглощения семян сахарной свеклы для определения их качества методом ИК-спектоскопии. 

23. Методика исследования природы химического взаимодействия в различных химических процессах сметодом измерения спектров пропускания твердых и жидких образцов органического и неорганического происхождения в средней ИК- области (4000-400 см-1).

24. Методика проведения ПЦР (метод полимеразной цепной реакции ПЦР) в реальном времени.

25. Методика определения содержания элементов в растворах методом атомно-абсорбционной спектроскопии.

26. Рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный качественный и количественный анализ химических элементов в диапазоне F – Am и их соединений известной стехиометрии. Измерение в вакууме, гелии пониженного давления (жидкости и несвязанные образцы), гелии атмосферного давления (летучие жидкости).

27. Определение меди в горных породах и рудах флуоресцентным рентгеноспектральным методом.

28. Рентгеноспектральное флуоресцентное определение меди, цинка и свинца способом внутреннего стандарта.

29. Определение кобальта, меди, никеля, свинца и цинка в горных породах, рудах и продуктах их переработки рентгенофлуоресцентным методом.

30. Определение фтора, натрия, магния, алюминия, кремния, фосфора, калия, кальция, скандия, титана, ванадия, хрома, марганца, железа, кобальта, никеля, стронция, циркония, ниобия в горных породах, рудах и продуктах их переработки рентгено-спектральным флуоресцентным методом.

31. Определение примесных элементов в почвах, донных осадках и горных породах рентгенофлуоресцентным методом.

32. Определение основных петрогенных элементов в силикатных горных породах, бокситах, карбонатах и железистых кварцитах флуоресцентным рентгеноспектральным методом.

33. Методика определения генотоксичности различных материалов.

34. Методика определения цитотоксичности различных материалов.

35. Методика получения липосом и способа нагрузки липосом лекарственными препаратами.

36. Методика проведения изучения тепловых фазовых переходов твёрдых и жидких образцов в широком диапазоне температур.

37. Методика регистрации пространственной структуры различных микрообъектов с использованием лазерной конфокальной микроскопии.

38. Идентификация, установление структуры, анализ чистоты (контроль качества), контроль и измерение концентраций химических соединений (количественный анализ) с возможностью разработки методик экспресс анализа и контроля.