Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47

Вход/регистрация

Вход

Забыли пароль?

Регистрация

Название

Фирма-изготовитель

Страна-изготовитель

Год выпуска

Описание

СЗМ Solver P47-PRO - это универсальный прибор для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик.

Особенности:

<ul>
	<li style="text-align: justify;">Собственная система виброизоляции для получение сверхвысокого разрешения без дополнительной виброзащиты (вплоть до атомарного)</li>
	<li style="text-align: justify;">Сканирующая туннельная микроскопия, Атомно-силовая микроскопия и Shear Force (позволяет использовать оптическое волокно в качестве зондового датчика) в одном приборе.</li>
	<li style="text-align: justify;">Работа в жидкостях, в контролируемой газовой среде и при температурах до 150 оС</li>
	<li style="text-align: justify;">Интерактивная система управления и программная настройка режимов работы и функциональной схемы прибора.</li>
	<li style="text-align: justify;">Возможность сохранения настроек в отдельных файлах позволяет начинающему пользователю работать с использованием практически всех современных методов сканирующей зондовой микроскопии.</li>
	<li style="text-align: justify;">Опытный пользователь может разрабатывать и реализовывать свои собственные методики, в том числе многопроходные.</li>
</ul>

Технические характеристики:

<table border="1" cellpadding="0" cellspacing="0">
	<tbody>
		<tr>
			<td style="width:319px">
			Размер образца
			</td>
			<td style="width:319px">
			40х40х10мм
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td style="width:319px">
			Сканеры
			</td>
			<td style="width:319px">
			3х3х1мкм(&plusmn;10%) 
			10х10х2мкм(&plusmn;10%) 
			50х50х3 мкм (&plusmn;10%)
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td style="width:319px">
			Минимальный шаг сканирования
			</td>
			<td style="width:319px">
			0.0004 нм; 0.0011 нм; 0.006 нм
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td style="width:319px">
			Способ сканирования
			</td>
			<td style="width:319px">
			Образцом
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td style="width:319px">
			СЗМ головки
			</td>
			<td style="width:319px">
			АФМ 
			СТМ 
			30 пА-50 нА, СКВ шум 4 пА (стандартный предусилитель) 
			10 пА-5 нА, СКВ шум 1,5 пА (низкотоковый предусилитель) 
			Shear Force
			</td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

Применение

Идеальный прибор для комплексного исследования различных материалов с высоким разрешением на воздухе и в контролируемых газовых средах (конфигурация сканирования образцом). Прибор может применяться в электронной промышленности для контроля нанолитогрфических (токовых, электрополевых, механических, химических и др.) операций, для контроля качества поверхности полупроводниковых и других пластин диаметром до 100 мм и толщиной до 20 мм. В химической промышленности, материаловедении и в биотехнологии прибор может применяться для контроля технологических процессов получения различных покрытий, пленок, полимерных и структурированных материалов и т.д.

Методики измерений

На воздухе:

СТМ / Низкотоковая СТМ / Туннельная Спектроскопия / Контактная АСМ / МЛС / Резонансная АСМ (полуконтактная + безконтактная) / Метод отображения Фазы / Метод модуляции силы / Изображение Силы Адгезии / Отображение сопротивления растекания /СЕМ /МЗК /МСМ /ЭСМ/ Поперечно-силовая микроскопия/ АСМ (Силовая + Токовая), СТМ и RM литографии

В жидкости:

Контактная АСМ / Микроскопия Боковых Сил/ Метод Модуляции силы / Изображение Силы Адгезии / полуконтактная (scanner-driven) АСМ/ АСМ (Силовая) Литография

Активно или нет

О центре