Рентгеновский дифрактометр ARL X'TRA

Возможности прибора:

1. Проведение качественного анализа материалов с автоматическим поиском по базе данных ICDD по элементам и существующим соединениям.
2. Возможность анализа порошков, пленок на подложке, монолитных образцов, в том числе сложной формы (параллельно-лучевая оптика).
3. Полуколичественный (по методу корундовых чисел) и количественный фазовый анализ, в том числе безэталонный (по методу Ритвельда).
4. Индицирование  дифрактограмм и уточнение параметров кристаллической решетки, в том числе полнопрофильными методами (Ле Беля и Паули).
5. Определение степени кристалличности материалов по методу Хуанга.
6. Определение внутренних напряжений в материалах по методу «sin²Ψ».
7. Определение размеров кристаллитов по методам Селякова-Шерера, Вильямсона-Холла, Уоррена-Авербаха.
8. Исследование кинетики фазовых превращений в материалах при изменении температуры до 1000°С в вакууме и в атмосфере различных газов.
9. Малоугловая рентгеновская дифрактометрия.
10. Проведение фазового анализа тонких пленок и покрытий на подложке с исключением влияния подложки.

Области применения:

• Металлы и сплавы
• Горные породы и минералы
• Фармацевтика
• Минеральные наполнители для лакокрасочной промышленности
• Минеральные удобрения
• Цеолиты (молекулярные сита)
• Полимеры
• Цемент и продукты цементного производства
• Строительные материалы
• Огнеупоры, керамика
• Пигменты

Технические характеристики: