Рентгеновский дифрактометр ARL X'TRA

Вход/регистрация

Вход

Забыли пароль?

Регистрация

Название

Фирма-изготовитель

Страна-изготовитель

Год выпуска

Описание

&nbsp;

Возможности прибора:

<ol>
	<li>Проведение качественного анализа материалов с автоматическим поиском по базе данных ICDD по элементам и существующим соединениям.</li>
	<li>Возможность анализа порошков, пленок на подложке, монолитных образцов, в том числе сложной формы (параллельно-лучевая оптика).</li>
	<li>Полуколичественный (по методу корундовых чисел) и количественный фазовый анализ, в том числе безэталонный (по методу Ритвельда).</li>
	<li>Индицирование&nbsp; дифрактограмм и уточнение параметров кристаллической решетки, в том числе полнопрофильными методами (Ле Беля и Паули).</li>
	<li>Определение степени кристалличности материалов по методу Хуанга.</li>
	<li>Определение внутренних напряжений в материалах по методу &laquo;sin2&Psi;&raquo;.</li>
	<li>Определение размеров кристаллитов по методам Селякова-Шерера, Вильямсона-Холла, Уоррена-Авербаха.</li>
	<li>Исследование кинетики фазовых превращений в материалах при изменении температуры до 1000&deg;С в вакууме и в атмосфере различных газов.</li>
	<li>Малоугловая рентгеновская дифрактометрия.</li>
	<li>Проведение фазового анализа тонких пленок и покрытий на подложке с исключением влияния подложки.</li>
</ol>

Области применения:

<ul>
	<li>Металлы и сплавы</li>
	<li>Горные породы и минералы</li>
	<li>Фармацевтика</li>
	<li>Минеральные наполнители для лакокрасочной промышленности</li>
	<li>Минеральные удобрения</li>
	<li>Цеолиты (молекулярные сита)</li>
	<li>Полимеры</li>
	<li>Цемент и продукты цементного производства</li>
	<li>Строительные материалы</li>
	<li>Огнеупоры, керамика</li>
	<li>Пигменты</li>
</ul>

Технические характеристики:

<table align="\&quot;center\&quot;" border="\&quot;1\&quot;" cellpadding="\&quot;0\&quot;" cellspacing="\&quot;0\&quot;">
	<tbody>
		<tr>
			<td>
			Название прибора
			</td>
			<td>
			ARL X&#39;TRA
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Производитель
			</td>
			<td>
			Thermo Scientific (Швейцария)
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Источник
			</td>
			<td>
			Cr,Fe,Cu,Co, Мо
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Мощность генератора
			</td>
			<td>
			3 кВт
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Гониометр:
			</td>
			<td>
			Вертикальный
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Геометрия
			</td>
			<td>
			(тета/тета)
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Режимы сканирования
			</td>
			<td>
			Симметричный, ассиметричный, кривые качания
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Оптические схемы
			</td>
			<td>
			по Брэггу-Брентано, параллельно-лучевая
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Радиус гониометра
			</td>
			<td>
			изменяемый,&nbsp; до 260 мм
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Точность позиционирования
			</td>
			<td>
			0.000025&deg;
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Режим съемки
			</td>
			<td>
			Непрерывный, пошаговый
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Минимальный шаг
			</td>
			<td>
			0.0005&deg;
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Детектор
			</td>
			<td>
			Полупроводниковый, с охлаждением на элементах Пельтье
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Разрешение детектора
			</td>
			<td>
			250 эВ
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Линейность детектора
			</td>
			<td>
			105 имп/с
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Монохроматизация
			</td>
			<td>
			Энергетическая дискриминация
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Автоподатчик
			</td>
			<td>
			12-позиционный
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Высокотемпературная камера
			</td>
			<td>
			нагрев до 1000 0С в высоком вакууме и атмосфере газов
			</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>
			Программное обеспечение
			</td>
			<td>
			Программный пакет WinXRD-2/05 для накопления, обработки спектров и анализа результатов
			</td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

&nbsp;

Активно или нет

О центре